GEE Inc.

技術経営修士と博士レベルの光産業創成研究

短納期な光学解析のオールラウンダー - 自動車、BRDF画像検査、ハイパースペクトル分析の革新

GEEの光学ナレッジと解析＋測定のデータ駆動でAIを提供。40年間データサイエンスの蓄積した能力で、短納期な最適ソリューションを実現します。

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光学ソフト（LightTools、LucidShape、ZEMAX、SPEOS、Lumicept）でのマテリアル作成をサポート。棚沢標準シボBSDF即納。

BSDF（双方向散乱分布関数）とは、素材の反射・散乱特性を詳細に記述する関数です。光の入射角と散乱角を基に、光学シミュレーションやマテリアル設計に活用されます。

LightTools、LucidShape、ZEMAX、SPEOS、Lumicept対応。自動車のDRLやテールランプ、生体の分析、自動運転の霧やガスの視認性分析などに使用できる散乱パラメータを提供します。

光学解析用レイファイルの出力。LightTools、LucidShape、ZEMAX、SPEOS、Lumicept対応。ランプの分光配光測定も可能。

車載表示、HUD、DRL、テールランプ、ディスプレイ、アンビエントライトの解析。自動運転、路面の白線の視認性、映りこみ課題解決、霧やガスの視認性分析を含め、太陽光、夜間、雨の視認性課題を解決。

BRDF傷検査で傷を可視化。照明解析技術で最適な照明レイアウトを設計し、ハレーションを除去。

BRDF（双方向反射分布関数）とは、素材の反射特性を詳細に記述する関数です。光の入射角と反射角を基に、傷や表面の微細な変化を高精度に検出します。

UVから赤外線（200-2000nm）対応。錆び、微細なキズ、水分、油分、異物混入、レーザー光吸収波長加工条件、樹脂の分離リサイクルなどのアプリケーションで物質の指紋データを提供し、オールラウンドな解析を実現。